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AFM/SPMプローブ

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概要

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。
広範囲の用途にお使い頂けるように豊富なラインナップをご用意しています。
※各プローブの詳細仕様は、下記資料欄にあるカタログをご参照ください。

■ スタンダードプローブ
	ゴールデンプローブ　CSG, NSGシリーズ Au反射コートで曲率半径(6nm, typical)の優れたプローブです。
	ポリシリコンETALONプローブ　HAシリーズ共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なプローブです。チップ両端に異なる種類のカンチレバーがあります。
	TOP VISUALプローブ　VITシリーズカンチレバーの先端の位置が真上から観察できる、飛び出し型のプローブです。サンプル表面上の正確な位置決めが可能です。
■ 磁気プローブ CoCr、CoFeの2種類の磁気コート、また、コーティングの厚みの異なるものをご提供しています。
■ 高アスペクト比プローブ深い溝、垂直な側壁を有するサンプルの測定に有効です。
	Whiskerプローブティップ先端に、10°または20°の傾斜角度で延伸したティップを持つプローブです。
	PHAプローブドリルのような細長いティップ形状を持つプローブです。
■ スーパーシャーププローブティップ先端を非常に鋭くした、高分解能測定用のプローブです。
	DLCプローブティップ先端に曲率半径2nm程度のDLCティップを備えたプローブです。
	SSプローブティップ先端を曲率半径2nm程度まで鋭くしたプローブです。
■ ダイヤモンドコートプローブダイヤモンドコーティングを施しており、安定かつ耐摩耗性を持つ長寿命プローブです。
	DCPシリーズ窒素ドープされたダイヤモンドコーティングにより、導電性を持つプローブです。
	HA_DCPシリーズチップ両端にカンチレバーがあり、2種類のティップをご使用頂けます。
■ 単結晶ダイヤモンドプローブ単結晶ダイヤモンドを使用し、高耐久性、長寿命を誇るプローブです。
	DEPシリーズ単結晶ダイヤモンドにホウ素ドープのダイヤモンドコート処理された導電性を持つプローブです。
	DRP, DRPSシリーズ高い機械的負荷やスクラッチテストといったアプリケーション用に作製されたプローブです。
	FDシリーズサンプル表面の静電気に鈍感なため、アプローチしやすく、トポグラフィイメージングに適したプローブです。
■ コロイダルプローブ
	チップレスカンチレバーにサイズ較正された球状粒子を固定したコンタクトモード用プローブです。コロイド球の粒子サイズは複数サイズから選択できます。 2つの表面間のコロイド相互作用の研究や相互作用特性の定量化に使用されます。
■ ティップレスプローブ
	ティップのない、カンチレバーだけのプローブです。広範囲を押さえつけたり、自作ティップを付ける場合にご使用頂けます。