表面/解析分析 SFG分光システム

製品概要

SFG分光システム

EKSPLA社のSFG分光システムはSFG(和周波発生)を利用することで様々なサンプルの表面、もしくは

界面の分子振動を解析するシステムです。また、波長を掃引しスペクトル測定を行う事で表面/界面の

分子配列を測定することもできます。測定はレーザー光を用いる為、非接触測定が可能です。

特長

◆各種表面/界面の測定が可能 固体-気体 固体-液体 液体-気体 液体-液体  ◆非破壊・非接触測定

◆豊富なオプション 顕微鏡オプション/二重共鳴オプション/Phase-sensitiveオプション 

SFG分光 基本原理

 差周波発生 原理                   SFG分光原理

SFG分光は、二次の非線形効果である和周波発生(Sum Frequency Generation)を利用します。SFGでは高い尖頭値異を持つ異なる2つの波長を

中心対称性がないサンプルに入射した際に起こる現象です。この手法の特徴として光による測定のため、光が対象に到達すれば測定が可能と

なることです。特に異なる2つの媒質が重なる表面/界面を考えると、それぞれの媒質が対称性を持っていても表面/界面では対称性は崩れる為

SFG信号を得ることが可能であり、表面/界面の情報を得ることができます。

 

豊富なオプション

ー二重共鳴オプション

SFG分光では可視光と赤外光を使用し、通常では可視光の波長を固定、赤外光を可変しスペクトルを測定します。

ここで可視光の波長は一般的に発生が容易なYAGの2倍波(532nm)を使用します。ただ、サンプルによっては

可視域にも吸収を持つ場合があり、この場合には可視光も当該波長に合わせることでより選択的な測定が可能

となります。そこで二重共鳴オプションでは可視光を可変化することで構造・配向・電子状態などを測定できます。

 

ー顕微鏡オプション

通常のSFG分光システムではある点でのスペクトル測定のみですが、顕微鏡と組み合わせることでμmオーダーで

表面のイメージ測定を行う事が可能です。また、励起波長を掃引することで各波長でのイメージ測定を行うことも

可能で、例えば腐食状態の測定などに使用することが可能です。

 

ーPhase-sensitiveオプション

通常のSFG分光ではSFG光の強度のみを測定しています。ただし、さらに詳細な情報を得る場合には位相情報も

必要となります。そこでPhase-sensitiveモデルは測定対象以外に既知のサンプルを設置し、2つのSFG信号を生成、

その後2つのSFG信号を干渉させることにより位相の測定を可能としています。

 

仕様

SFG分光システム 仕様