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製品情報

SWIR領域用ビームプロファイラー SWIRシリーズ

製品詳細

分野

  • 計測
  • OEM/組込み

メーカー

Femto Easy(フランス)

正規代理店

概要

Femtoeasy社のSWIRシリーズは、高分解能で近赤外レーザーのビームパラメーターが測定可能なビームプロファイラーです。測定波長は9001700 nmに対応し、最小50μmのビームサイズを測定する事が可能です。また筐体は手のひらサイズの小型かつ堅牢な設計になっており、取り回しも簡単です。
無償で付属するソフトウェアにより、使いやすく、かつ容易にビーム解析が可能です。


特長

・高分解能 素子サイズ 10μm
・測定波長 最大900~1700nm
・大面積測定 21×17 mm
・ユーザーフレンドリーなソフトウェア制御
・コンパクトデザイン
Cマウント対応


仕様

型番SWIR 5.4SWIR 10.8SWIR 13.10SWIR 21.17
測定可能波長範囲900~1700 nm
センサーサイズ4.8×3.8 mm9.6×7.7 mm12.8×10.2 mm21×17 mm
センサーフォーマットInGaAs, 1/2"InGaAs, 1”InGaAs, 1”InGaAs, APS-C
解像度320×256640×5121280×1024640×512
素子サイズ15 μm10 μm33 μm
最小ビーム径 (Φ FWHM )75 μm50 μm270 μm
最高測定速度1000 fps230 fps60 fps230 fps
露光時間10 μs ~ 50 ms
ダイナミックレンジ63 dB61 dB63 dB
120 dB HDRオプション有
A/D ダイナミックレンジ14 bit
インターフェースUSB 3.0
同期可能@トリガーオプション
寸法46×46×53 mm46×46×57 mm58×58×70 mm46×46×57 mm

各資料

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