教育

小型ダイオードレーザー 標準モデル
最大出力 : 1000 mW | 多波長 : 375~1064 nm | 専用ソフトウェア付属
出力 : コリメート空間出力 or ファイバー出力 | 変調速度 最大1.5MHz

ラマン分光や干渉計などに最適
最大出力 : 500 mW | 多波長 : 405~830 nm | 専用ソフトウェア付属
波長安定度 : <0.015 nm| コヒーレンス長 : 最大2.0 m

組み込み・省スペース化に最適
最大出力 : 100 mW | 多波長 : 375~1550 nm | 専用ソフトウェア付属
出力 : コリメート空間出力 or ファイバー出力

ティップのない、カンチレバーだけのAFM/SPM用プローブ
ティップなし　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　チップ両端に異なるカンチレバーあり

サイズ校正されたSiO2スフィアを固定したAFM/SPM用プローブ
SiO2スフィア　2～15 μm(typical)　|　3種類のモデル
相互作用の研究に有用　|　摩擦力測定・接着力測定

アプローチしやすく、トポグラフィ用途に適したAFM/SPM用プローブ
曲率半径　2～25 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　サンプル表面の静電荷に鈍感

高い機械的負荷やスクラッチテスト用に作製されたAFM/SPM用プローブ
曲率半径　2～25 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　曲率半径の異なる3モデル

単結晶ダイヤモンドに導電性付与した高耐久性・長寿命AFM/SPM用プローブ
曲率半径　7 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　ホウ素ドープにより導電性あり

ダイヤモンドコートされて優れた耐摩耗性を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　～100 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
優れた耐摩耗性、長寿命　|　1本で2種の測定に対応

曲率半径2 nmのティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　2 nm(typical)　|　反射側Alコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　スーパーシャープティップ

曲率半径1～3 nmのDLCティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　1～3 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　ダイヤモンドライクカーボン(DLC)使用

ドリルのような細長いティップ形状を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　5～8 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
深い溝、垂直な側壁の測定に有効　|　1本で2種の測定に対応

ティップ先端に傾斜角度で延伸したティップを持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　<10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
10°または20°のティップ傾斜角度　|　深い溝、垂直な側壁の測定に有効

カンチレバーの先端が真上から観察可能な飛び出し型AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　カンチレバー先端が観察可能
導電性コーティング可能 (Pt、Au)　|　1本で2種の測定に対応

共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なAFM/SPM用プローブ
曲率半径　< 10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au、W2C)　|　1本で2種の測定に対応

レーザーシグナル増強用にAu反射コートを持つ AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au)　|　豊富なラインナップ

AFM/SPMの観察用基板やテストサンプルに適したHOPG
モザイクスプレッド異なる4モデルを用意　|　複数サイズを用意
平坦で滑らかな表面　|　導電性あり

携帯型システムの利点と研究用機器の性能を兼ね備えたラマン分光装置
レーザー波長：532nm、1064nm　|　非接触・リアルタイム測定
高感度・低ノイズ　|　低価格・簡単操作・簡単メンテナンス

高出力レーザーアプリケーションに適したゼロオーダー波長板
波長可変域 : 715~4200 nm  |  高いダメージ閾値
豊富な波長ラインナップ  |  低価格

輝線測定などの高波長分解能測定のために設計されたファイバー入射型の小型分光器
波長範囲 ： 200 ～ 1100 nm　|　波長分解能 ： 最高0.04 nm (HWHM)
小型・堅牢　|　短納期