教育

高出力レーザーアプリケーションに適したゼロオーダー波長板
中心波長 : 257~1550 nm  |  高いダメージ閾値
豊富な波長ラインナップ  |  低価格

小型分光器との使用に最適な強度校正用小型ハロゲンランプ光源
校正波長範囲 300 ～ 1050、300～1700 nm　|　校正データ、校正証明書付属
コンパクト・低価格　|　簡単使用

HgとArの輝線を利用したSMA接続タイプの波長較正用ランプ
校正波長範囲 253.65 ～ 1013.98 nm　|　SMA出力
コンパクト・持ち運び容易　|　電源アダプタと9V型乾電池のどちらでも駆動

小型分光器との使用に最適な強度校正用小型重水素光源
校正波長範囲 200 ～ 400 nm　|　校正データ、校正証明書付属
コンパクト・低価格　|　簡単使用

ツェルニターナ型を採用した高スループット・高分解能の高性能分光器
焦点距離　20、35、52、75 cm　|　非点収差を抑えたイメージングモデルあり
グレーティング 最大4枚搭載可能　|　出射ポート　最大2

小型分光器との使用に最適なSMAファイバー接続型の小型ハロゲンランプ光源
波長範囲 350 ～ 2500 nm　|　長寿命
コンパクト・低価格　|　豊富なラインナップ・オプション

フリースペース入射とファイバー入射の両方に対応可能な小型分光器
波長範囲 ： 190 ～ 1100 nm　|　波長分解能 ： 最高0.05 nm
軽量・コンパクト　|　フリースペース、ファイバー入射可能

波長分解能を維持しつつ測定波長範囲を調整可能な小型分光器
波長範囲 ： 190 ～ 1100 nm　|　波長分解能 ： 最高0.017 nm
測定波長範囲の調整機能あり　|　フリースペース、ファイバー入射可能

高コストパフォーマンスの赤外用スキャニング小型分光器
波長範囲 ： 500 ～ 3450 nm　|　波長分解能 ： 最高0.5 nm
安価かつ高性能　|　フリースペース、ファイバー入射可能

小型ダイオードレーザー 標準モデル
最大出力 : 1000 mW | 多波長 : 375~1064 nm | 専用ソフトウェア付属
出力 : コリメート空間出力 or ファイバー出力 | 変調速度 最大1.5MHz

ラマン分光や干渉計などに最適
最大出力 : 500 mW | 多波長 : 405~830 nm | 専用ソフトウェア付属
波長安定度 : <0.015 nm| コヒーレンス長 : 最大2.0 m

組み込み・省スペース化に最適
最大出力 : 100 mW | 多波長 : 375~1550 nm | 専用ソフトウェア付属
出力 : コリメート空間出力 or ファイバー出力

レーザーシグナル増強用にAu反射コートを持つ AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au)　|　豊富なラインナップ

共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なAFM/SPM用プローブ
曲率半径　< 10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au、W2C)　|　1本で2種の測定に対応

カンチレバーの先端が真上から観察可能な飛び出し型AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　カンチレバー先端が観察可能
導電性コーティング可能 (Pt、Au)　|　1本で2種の測定に対応

ティップ先端に傾斜角度で延伸したティップを持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　<10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
10°または20°のティップ傾斜角度　|　深い溝、垂直な側壁の測定に有効

ドリルのような細長いティップ形状を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　5～8 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
深い溝、垂直な側壁の測定に有効　|　1本で2種の測定に対応

曲率半径1～3 nmのDLCティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　1～3 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　ダイヤモンドライクカーボン(DLC)使用

曲率半径2 nmのティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　2 nm(typical)　|　反射側Alコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　スーパーシャープティップ

ダイヤモンドコートされて優れた耐摩耗性を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　～100 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
優れた耐摩耗性、長寿命　|　1本で2種の測定に対応