光関連製品・レーザー製品、科学機器のMSHシステムズ
お問い合わせ
03-6659-7541
製品情報

和周波発生(SFG)分光測定装置

製品詳細

分野

  • 分析・検査
  • 計測
  • イメージング

メーカー

MSHシステムズ

弊社

概要

和周波発生(Sum Frequency Generation)分光は、対象となる試料に波長の異なる2つの短パルスレーザー光(VIS,IR)を照射したときに、異なる媒体が接する境界面だけから発生する特異的な光を利用した、表面・界面の分子の挙動を選択的に観ることのできる唯一の分光学的手法です。

親水性や撥水性、摩擦、接着・剥離、表面改質、生体分子相互作用、分子吸着、電気化学、液体界面等、表面や界面で起こるいろいろな現象が測定できます。

本装置は、高繰返しフェムト秒レーザーを採用することにより、従来1スペクトルを測定するのに数10分要していた測定が、数秒で測定できる次世代和周波分光計測装置です。またヒューストン大学でSFG顕微鏡に応用された圧縮センシング法により短時間でのイメージング測定が可能です。

本装置は千葉大学・宮前教授およびヒューストン大学・Baldelli教授をはじめとするユーザーのアドバイスを基に独自開発しました。


■ 参考データ


特長

・1スペクトルを数秒で測定可能
・ハイパースペクトルイメージング測定可能


仕様

■ 基本仕様

モデルBasicProfessional
スペクトル検出波長範囲> 200 cm-1> 200 cm-1
> 100 cm-1 (666-1000cm-1)
Vis波長1030 nm1030 nm
IR波長1000-4000 cm-1666-4000 cm-1
スペクトル分解能<10 cm-1<10 cm-1
光学系VIS, IR照射、自動偏光制御、
6軸サンプルステージ
VIS, IR照射、自動偏光制御、
6軸サンプルステージ
検出系分光器+CCDによるスペクトル測定、
PMTでのシステム調整
分光器+CCDによるスペクトル測定、
圧縮センシング法によるイメージ測定、
PMTでのシステム調整
ソフトウエアSFGviewSFGview、SFGimage
オプションVis波長:1030nm、可視域可変
スペクトル分解能 : < 5 cm-1

製品に関するご質問・御見積など、お気軽にお問い合わせください

03-6659-7540 受付 AM9:00~PM5:30(土日祝、年末年始除く)
03-6659-7541 24時間受付
Menu
©Copyright 2021 MSH システムズ All Rights Reserved.