オプティカルフラット

製品詳細

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他の光学部品のテストおよび評価に最適なオプティカルフラット
高品質UVFS製　|　平坦度　λ/ 20 @ 633 nm
サイズ　Φ25.0～40.0 mm

参照面の平坦度がλ/ 20 @ 633 nmの片面光学フラットを提供しています。平坦度の測定に使用され、光学部品のテストおよび評価に最適です。光の干渉を応用し、オプティカルフラットと評価物の間に作成される干渉パターンで評価します。

・基準面の平面度：λ/ 20
・他の光学部品のテストおよび評価に最適

■ 外観図

■ラインナップ

■ 仕様

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