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AFM/SPMプローブ

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SNOMプローブ

プローブ先端に微小な開口部が形成されたSNOM測定用プローブ
5種類の透過波長を用意 400~1600 nm | 高品質
10本セットでの提供

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AFM/SPM用ゴールデンプローブ CSG・NSGシリーズ

レーザーシグナル増強用にAu反射コートを持つ AFM/SPM用プローブ
曲率半径 6nm(typical) | 反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIrAu) | 豊富なラインナップ

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AFM/SPM用ポリシリコンETALONプローブ HAシリーズ

共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なAFM/SPM用プローブ
曲率半径 < 10nm(typical) | 反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIrAuW2C) | 1本で2種の測定に対応

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AFM/SPM用TOP VISUALプローブ VITシリーズ

カンチレバーの先端が真上から観察可能な飛び出し型AFM/SPM用プローブ
曲率半径 6nm(typical) | カンチレバー先端が観察可能
導電性コーティング可能 (PtAu) | 1本で2種の測定に対応

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AFM/SPM用高アスペクト比プローブ Whiskerプローブ

ティップ先端に傾斜角度で延伸したティップを持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径 <10nm(typical) | 反射側Auコーティング
10°または20°のティップ傾斜角度 | 深い溝、垂直な側壁の測定に有効

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AFM/SPM用高アスペクト比プローブ PHAプローブ

ドリルのような細長いティップ形状を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径 58 nm(typical) | 反射側Auコーティング
深い溝、垂直な側壁の測定に有効 | 1本で2種の測定に対応

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AFM/SPM用スーパーシャーププローブ DLCプローブ

曲率半径1~3 nmのDLCティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径 13 nm(typical) | 反射側Auコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適 | ダイヤモンドライクカーボン(DLC)使用

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AFM/SPM用スーパーシャーププローブ SSプローブ

曲率半径2 nmのティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径 2 nm(typical) | 反射側Alコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適 | スーパーシャープティップ

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AFM/SPM用ダイヤモンドコートプローブ HA_DCPプローブ

ダイヤモンドコートされて優れた耐摩耗性を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径 ~100 nm(typical) | 反射側Auコーティング
優れた耐摩耗性、長寿命 | 1本で2種の測定に対応

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AFM/SPM用単結晶ダイヤモンドプローブ DEPプローブ

単結晶ダイヤモンドに導電性付与した高耐久性・長寿命AFM/SPM用プローブ
曲率半径 7 nm(typical) | 反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命 | ホウ素ドープにより導電性あり

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AFM/SPM用単結晶ダイヤモンドプローブ DRP、DRPSプローブ

高い機械的負荷やスクラッチテスト用に作製されたAFM/SPM用プローブ
曲率半径 225 nm(typical) | 反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命 | 曲率半径の異なる3モデル

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AFM/SPM用単結晶ダイヤモンドプローブ FDプローブ

アプローチしやすく、トポグラフィ用途に適したAFM/SPM用プローブ
曲率半径 225 nm(typical) | 反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命 | サンプル表面の静電荷に鈍感

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AFM/SPM用コロイダルプローブ

サイズ校正されたSiO2スフィアを固定したAFM/SPM用プローブ
SiO2スフィア 215 μm(typical) | 3種類のモデル
相互作用の研究に有用 | 摩擦力測定・接着力測定

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AFM/SPM用ティップレスプローブ

ティップのない、カンチレバーだけのAFM/SPM用プローブ
ティップなし | 反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命 | チップ両端に異なるカンチレバーあり

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