イメージング

1スペクトルを数秒で測定可能な超高速の次世代和周波分光計測装置
スペクトル測定　約3秒　|　ハイパースペクトルイメージング測定可能

低価格ながら背面照射型センサーを搭載した最先端のsCMOSカメラ
画素数 : 2048×2048  | 素子サイズ：11μm×11μm  | 最大量子効率: 95%
フルウェル容量：100Ke^–   | 空冷/水冷(対応) | 低価格・コンパクト

低価格ながら背面照射型センサーを搭載した最先端のsCMOSカメラ
画素数 : 2048×2048  | 素子サイズ：6.5μm×6.5μm  | 最大量子効率: 95%
読出ノイズ : 1.２e^–  | 空冷/水冷(対応 | 低価格・コンパクト

分光アプリケーション、センシング測定に最適
波長可変域 : 192~12000 nm | 繰返し周波数 : ~1 kHz
パルス幅 : 4~6 ns,  <10 ns@NT270 | 制御：PC or キーパッド

LIFやフラッシュフォトリシスなど、分光用途に最適
波長範囲 : 192~18000 nm | 最大エネルギー : 230 mJ | パルス幅 : 3-6 ns
高調波発生オプション有 | 完全PC制御

多光子顕微鏡やレーザー加工に最適
波長 : 1230~1270 nm(CrF-450TP) | パルス幅 : <65 fs  | 出力 : ~700 mW
パルスコンプレッサーオプション有

時間分解測定、分光アプリケーションに最適
波長可変域 : 193~16000 nm | 狭線幅 : <6cm^-1 | パルス幅 : 30+/-5 ps
高ピークパワー : >50 MW | 自動波長制御

高繰返しで高S/N比を実現
波長可変域 : 210~2300 nm | 繰返し周波数 : 1000 Hz | パルス幅 : ~20 ps
エネルギー : ~70 μJ | 波長制御 : PC or キーパッド

テラヘルツ発生や多光子顕微鏡に最適
波長 : 1050 nm +/- 5 nm | パルス幅 : <70 fs  | 出力 : ~7W
高調波発生モデル有

分光アプリケーション全般に最適
波長可変域 : 193~16000 nm | 狭線幅 : 0.8 cm^-1~ | パルス幅 : 15 ps~
繰返し周波数 : 最大1000 Hz | 完全電子制御 PC+キーパッド

レーザー分光やテラヘルツ発生に最適
波長 : 1560 nm +/- 10 nm | パルス幅 : <80 fs (EFO-80/10) | 出力 : ~2W (EFOS-300/200)
高調波発生可 | 近赤外用スーパーコンティニューム発生モデル有

赤外域での分光、顕微鏡観察用光源に最適
波長可変域 : 1400~4500 nm | パルス幅 : 70 ps | PC制御 Labview制御可
最大出力 : >500 mW | 励起光源一体型

光音響イメージング用光源
波長可変域 : 660~1064nm + 1065~2300 nm | 高出力 : ~250 mJ
繰返し周波数 : 10 Hz or 20 Hz | パルス幅 : 3~5 ns

LIFや光音響イメージング、分光アプリケーションに最適
波長 : 410~2300 nm (210nm~@SHG)　|　パルス幅 : <5 ns
エネルギー : 最大 5 mJ | 繰返し周波数 : 最大100 Hz | 完全空冷

光音響用に最適化された高性能光源
波長可変域 : 665~2600 nm | 繰返し周波数 : 100 Hz or 50 Hz
パルス幅 : 2~5 ns | エネルギー : 最大65 mJ | バンドルファイバー用出射

多光子顕微鏡、SHG顕微鏡などに最適
波長可変域 : 715~4200 nm | 繰返し周波数 : 80+/-1 MHz | パルス幅 : <150 fs
平均出力 : 最大1200 mW ~ | 波長制御 : PC

多チャンネル出力フェムト秒レーザー
波長 : ① 1560 +/- 10 nm ②780 +/- 5 nm ③1100~2000 nm  | パルス幅 : <150 fs
出力 : ①>150 mW@1560 nm ②>50 mW@780 nm ③>130 mW@1100~2000 nm

赤外分光、センシングに最適
波長 : 1380~4500 nm | パルス幅 : <3~4 ns
エネルギー : 最大 6.5 mJ | 繰返し周波数 : 最大20 Hz | 完全空冷

レーザー加工やバイオイメージングなどに最適
エネルギー : 3 μJ(Single) / 10 μJ(Burst) | 繰返し周波数 : 最大5 MHz
パルス幅 : 300 fs~5 ps(可変) | バースト波形制御可能

低ノイズかつVGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 22e@HG | 暗電流 : 3000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有