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透過測定用ホルダー TXFシリーズ

製品詳細

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メーカー

StellarNet(アメリカ)

正規代理店

概要

SMA接続が可能な、透過測定の際に好適な透過測定用冶具
対応波長範囲 最大 190 2200 nm | 光路長可変モデルあり 07 cm
低価格 | コリメートレンズ付属


特長

StellarNet社の小型分光器と一緒に透過測定の際にご使用いただける透過測定用冶具です。
SMAコネクタ接続のコリメートレンズまたは積分球が冶具に備え付けられているので、SMA光ファイバーをすぐに簡単に取り付け可能です。


・対応波長範囲 190 2200 nm300 2200 nm
・光路長 1 cm または 0 7 cm
・コリメートレンズ付属
・低価格


仕様

型名光路長対応波長範囲付属品外観
TXF-11 cm190 ~ 2200 nm・コリメートレンズLens-Qcol (2個)
TXF-40 – 7 cm190 ~ 2200 nm・コリメートレンズLens-Qcol (2個)
TXF-IC20 – 7 cm300 ~ 1700 nm・コリメートレンズLens-Qcol
・小型積分球IC2

各資料

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