製品情報
透過測定用ホルダー TXFシリーズ
製品詳細

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メーカー

StellarNet(アメリカ)
正規代理店概要
SMA接続が可能な、透過測定の際に好適な透過測定用冶具
対応波長範囲 最大 190 ~ 2200 nm | 光路長可変モデルあり 0~7 cm
低価格 | コリメートレンズ付属
特長
StellarNet社の小型分光器と一緒に透過測定の際にご使用いただける透過測定用冶具です。
SMAコネクタ接続のコリメートレンズまたは積分球が冶具に備え付けられているので、SMA光ファイバーをすぐに簡単に取り付け可能です。
・対応波長範囲 190 ~ 2200 nm、300 ~ 2200 nm
・光路長 1 cm または 0 ~ 7 cm
・コリメートレンズ付属
・低価格
仕様
各資料
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