計測

レーザービームの音響光学偏光(AOD)技術を採用した高精度・高速スイッチングが可能なレーザーピンセットシステム
AOD技術により複雑な光学トラッピングパターンを作成でき、またトラップされた対象物を非常に正確な位置と強度で制御可能。

1スペクトルを数秒で測定可能な超高速の次世代和周波分光計測装置
スペクトル測定　約3秒　|　ハイパースペクトルイメージング測定可能

高出力レーザーアプリケーションに適したゼロオーダー波長板
中心波長 : 257~1550 nm  |  高いダメージ閾値
豊富な波長ラインナップ  |  低価格

小型分光器との使用に最適な強度校正用小型ハロゲンランプ光源
校正波長範囲 300 ～ 1050、300～1700 nm　|　校正データ、校正証明書付属
コンパクト・低価格　|　簡単使用

HgとArの輝線を利用したSMA接続タイプの波長較正用ランプ
校正波長範囲 253.65 ～ 1013.98 nm　|　SMA出力
コンパクト・持ち運び容易　|　電源アダプタと9V型乾電池のどちらでも駆動

小型分光器との使用に最適な強度校正用小型重水素光源
校正波長範囲 200 ～ 400 nm　|　校正データ、校正証明書付属
コンパクト・低価格　|　簡単使用

ツェルニターナ型を採用した高スループット・高分解能の高性能分光器
焦点距離　20、35、52、75 cm　|　非点収差を抑えたイメージングモデルあり
グレーティング 最大4枚搭載可能　|　出射ポート　最大2

小型分光器との使用に最適なSMAファイバー接続型の小型ハロゲンランプ光源
波長範囲 350 ～ 2500 nm　|　長寿命
コンパクト・低価格　|　豊富なラインナップ・オプション

低価格ながら背面照射型センサーを搭載した最先端のsCMOSカメラ
画素数 : 2048×2048  | 素子サイズ：11μm×11μm  | 最大量子効率: 95%
フルウェル容量：100Ke^–   | 空冷/水冷(対応) | 低価格・コンパクト

低価格ながら背面照射型センサーを搭載した最先端のsCMOSカメラ
画素数 : 2048×2048  | 素子サイズ：6.5μm×6.5μm  | 最大量子効率: 95%
読出ノイズ : 1.２e^–  | 空冷/水冷(対応 | 低価格・コンパクト

フリースペース入射とファイバー入射の両方に対応可能な小型分光器
波長範囲 ： 190 ～ 1100 nm　|　波長分解能 ： 最高0.05 nm
軽量・コンパクト　|　フリースペース、ファイバー入射可能

波長分解能を維持しつつ測定波長範囲を調整可能な小型分光器
波長範囲 ： 190 ～ 1100 nm　|　波長分解能 ： 最高0.017 nm
測定波長範囲の調整機能あり　|　フリースペース、ファイバー入射可能

高コストパフォーマンスの赤外用スキャニング小型分光器
波長範囲 ： 500 ～ 3450 nm　|　波長分解能 ： 最高0.5 nm
安価かつ高性能　|　フリースペース、ファイバー入射可能

分光アプリケーション、センシング測定に最適
波長可変域 : 192~12000 nm | 繰返し周波数 : ~1 kHz
パルス幅 : 4~6 ns,  <10 ns@NT270 | 制御：PC or キーパッド

LIFやフラッシュフォトリシスなど、分光用途に最適
波長範囲 : 192~18000 nm | 最大エネルギー : 230 mJ | パルス幅 : 3-6 ns
高調波発生オプション有 | 完全PC制御

時間分解測定、分光アプリケーションに最適
波長可変域 : 193~16000 nm | 狭線幅 : <6cm^-1 | パルス幅 : 30+/-5 ps
高ピークパワー : >50 MW | 自動波長制御

2光子顕微鏡やトモグラフィー用光源に最適
波長可変域 : 715~980 nm(TiF-100) | 最大出力 : 1.55 W(TiF-100)
パルス幅 : 12~50 fs(TiF-SP) | 専用ソフトウェア付属

高繰返しで高S/N比を実現
波長可変域 : 210~2300 nm | 繰返し周波数 : 1000 Hz | パルス幅 : ~20 ps
エネルギー : ~70 μJ | 波長制御 : PC or キーパッド

テラヘルツ発生や多光子顕微鏡に最適
波長 : 1050 nm +/- 5 nm | パルス幅 : <70 fs  | 出力 : ~7W
高調波発生モデル有

分光アプリケーション全般に最適
波長可変域 : 193~16000 nm | 狭線幅 : 0.8 cm^-1~ | パルス幅 : 15 ps~
繰返し周波数 : 最大1000 Hz | 完全電子制御 PC+キーパッド