分析・検査

小型分光器との使用に最適な強度校正用小型重水素光源
校正波長範囲 200 ～ 400 nm　|　校正データ、校正証明書付属
コンパクト・低価格　|　簡単使用

HgとArの輝線を利用したSMA接続タイプの波長較正用ランプ
校正波長範囲 253.65 ～ 1013.98 nm　|　SMA出力
コンパクト・持ち運び容易

LIF、フォトリシス、燃焼アプリケーションに最適
波長範囲 : 197 nm ~ 5 μm | 波長分解能 : <0.03 cm^-1@570 nm
SHG、THG、DFMオプション有

最高100kHzの高繰返しに対応、燃焼アプリケーションに最適
波長範囲 : 430~900 nm | 波長分解能 : <0.06 cm^-1@570 nm
高調波オプションあり

LIFや光音響イメージング、分光アプリケーションに最適
波長 : 410~2300 nm (210nm~@SHG)　|　パルス幅 : <5 ns
エネルギー : > 8 mJ@450 nm | 繰返し周波数 : 最大100 Hz | 完全空冷

光音響イメージング、分光アプリケーションに最適
波長 : 680~2300 nm　|　パルス幅 : <4 ns
エネルギー : 最大 11 mJ@800 nm | 繰返し周波数 : 最大100 Hz | 完全空冷

赤外分光、センシングに最適
波長 : 1380~4500 nm | パルス幅 : <3~4 ns
エネルギー : > 17 mJ@ピーク波長 | 繰返し周波数 : 最大100 Hz | 完全空冷

光音響イメージング、各種分光アプリケーション、リモートセンシングに最適
波長 : 750~1800 nm/1600~3200 nm　|　パルス幅 : <5～7 ns
エネルギー : 最大 50 μJ@1200 nm | 繰返し周波数 : 最大100 kHz | 完全空冷