計測

真空チャンバー内で使用可能　高感度EMCCD X線カメラ
画素数 : 1024×1024 | ピクセルサイズ : 10×10 μm | 最大量子効率 : >90%
フレームレート : 31fps (フルフレーム)

真空チャンバー内で使用可能　高感度EMCCD X線カメラ
画素数 : 1024×1024 | ピクセルサイズ : 10×10 μm | 最大量子効率 : >90%
フレームレート : 31fps (フルフレーム)

真空チャンバー内で使用可能　高感度CCD X線カメラ
画素数 : 1024×1024 or 2048×2048 | 最大量子効率 : >90% |
冷却温度 : -80℃(水冷) | ピクセルサイズ : 13.5×13.5 μm or 13.0×13.0 μm

レーザーシグナル増強用にAu反射コートを持つ AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au)　|　豊富なラインナップ

共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なAFM/SPM用プローブ
曲率半径　< 10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
導電性コーティング可能 (PtIr、Au、W2C)　|　1本で2種の測定に対応

カンチレバーの先端が真上から観察可能な飛び出し型AFM/SPM用プローブ
曲率半径　6nm(typical)　|　カンチレバー先端が観察可能
導電性コーティング可能 (Pt、Au)　|　1本で2種の測定に対応

ティップ先端に傾斜角度で延伸したティップを持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　<10nm(typical)　|　反射側Auコーティング
10°または20°のティップ傾斜角度　|　深い溝、垂直な側壁の測定に有効

ドリルのような細長いティップ形状を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　5～8 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
深い溝、垂直な側壁の測定に有効　|　1本で2種の測定に対応

曲率半径1～3 nmのDLCティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　1～3 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　ダイヤモンドライクカーボン(DLC)使用

曲率半径2 nmのティップを備えた高分解能AFM/SPM用プローブ
曲率半径　2 nm(typical)　|　反射側Alコーティング
数nmサイズの超微小物体に最適　|　スーパーシャープティップ

ダイヤモンドコートされて優れた耐摩耗性を持つAFM/SPM用プローブ
曲率半径　～100 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
優れた耐摩耗性、長寿命　|　1本で2種の測定に対応

単結晶ダイヤモンドに導電性付与した高耐久性・長寿命AFM/SPM用プローブ
曲率半径　7 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　ホウ素ドープにより導電性あり

高い機械的負荷やスクラッチテスト用に作製されたAFM/SPM用プローブ
曲率半径　2～25 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　曲率半径の異なる3モデル

アプローチしやすく、トポグラフィ用途に適したAFM/SPM用プローブ
曲率半径　2～25 nm(typical)　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　サンプル表面の静電荷に鈍感

サイズ校正されたSiO2スフィアを固定したAFM/SPM用プローブ
SiO2スフィア　2～15 μm(typical)　|　3種類のモデル
相互作用の研究に有用　|　摩擦力測定・接着力測定

ティップのない、カンチレバーだけのAFM/SPM用プローブ
ティップなし　|　反射側Auコーティング
高耐久性、長寿命　|　チップ両端に異なるカンチレバーあり

AFM/SPMの観察用基板やテストサンプルに適したHOPG
モザイクスプレッド異なる3モデルを用意　|　複数サイズを用意、特注サイズも対応
平坦で滑らかな表面　|　導電性あり

AFM/SPMの各種校正や評価にお使いいただける校正用グレーティング
豊富なラインナップ　9種類　|　XYZ軸校正やティップ形状評価など
低価格　|　数のグレーティングをまとめた安価なセットあり

AFM/SPMの動作確認用や設定調整などに適したテスト用サンプル
用途の異なる3モデルを用意　|　低価格
ステップ高さ0.75nm、1.5 nmのサンプル　|　線状DNA分子サンプル

光イオン化源と質量分析、光物理・光化学用途に最適なVUV光源
中心放射波長　116～172 nm　|　パルス/CW動作設定可
高輝度・高安定出力　|　微小焦点スポット　～3 mm