分析・検査

1200万画素・低ノイズ・高ダイナミックレンジ低価格CCDカメラ
1200万画素　|　最大ΔT-40℃(＠空冷, typical)　|　読出ノイズ 1.6 e^– RMS
画素サイズ　3.1 x 3.1 μm　|　モノクロモデル

上下2段に異なるグレーティングを搭載した2つの独立したスペクトルチャンネルを持つ分光器
独立駆動の2段グレーティング　|　2つの独立したスペクトルチャンネル
幅広い波長域と高波長分解能の同時測定可能　|　出射ポート 2

SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

VGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 19000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

アナログ出力が可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×480(EIA) 640×512(CCIR) | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

低価格かつ堅牢 VGAフォーマットSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : 非冷却 | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | オフセット/ゲイン/補正有

SXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 18e@HG | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

高フレームレート測定可能
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | フレームレート : 300 Hz | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

10μmピクセルピッチ採用 高分解能測定に最適
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 600~1700 nm
ピクセルピッチ : 10 μm×10 μm | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

kHzレートでの測定が可能なSWIRカメラ
画素数 : 320×256 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 225e@HG | フレームレート : kHzオーダー(ROI時) | オフセット/ゲイン補正有

低ノイズかつSXGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 1280×1024 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 50e@HG | 暗電流 : 4000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

低ノイズかつVGAフォーマットで測定可能なSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : TEC (-15 ℃) | 波長範囲 : 600~1700 nm
読出しノイズ : 22e@HG | 暗電流 : 3000e/p/s | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

-80℃冷却 暗電流を最小限に抑えたSWIRカメラ
画素数 : 640×512 | 冷却 : -80℃ (水冷) | 波長範囲 : 900~1700 nm
読出しノイズ : 30e@HG | 暗電流 : 100e/p/s | オフセット/ゲイン補正有

要望に沿って構成をお選びいただけるモジュール方式のラマン分光装置
対応波長　532nm、785nm　|　持ち運び容易
低価格　|　要望に沿ったモジュール構成が可能

光路長標準10mm、石英ガラス窓材の小型フローセル
光路長　2.5～100 mmで選択可能　|　容量　2～260 μl
透過・吸収測定用モデル、蛍光測定用モデル　|　材質選択可能

反射測定用の標準サンプル、膜厚測定用標準サンプルのラインナップ
拡散反射用標準サンプル　|　鏡面反射標準サンプル
膜厚測定用標準サンプル

3種の高性能フィルターで構成された蛍光測定用フィルターセット
高ブロッキング性能　|　高透過率・高反射率
低価格　|　高耐久性・長寿命

高いブロッキング性能・高透過率の蛍光測定用バンドパスフィルター
高ブロッキング性能　OD > 5　|　高透過率　> 85%～
低価格　|　高耐久性・長寿命

高透過率・高反射率を持つハードコート仕様のダイクロイックフィルター
広い動作波長範囲　|　高透過率・高反射率　> 90%
低価格　|　高耐久性・長寿命

スペースが限られた場所でも測定可能な薄型ビームプロファイラー
測定波長　190～1100 nm　|　小さなフットプリント
解像度　最大3864×2176画素　|　取り回しが容易な小型・薄型デザイン