製品情報

AFM/SPMの各種校正や評価にお使いいただける校正用グレーティング
豊富なラインナップ　9種類　|　XYZ軸校正やティップ形状評価など
低価格　|　数のグレーティングをまとめた安価なセットあり

AFM/SPMの動作確認用や設定調整などに適したテスト用サンプル
用途の異なる3モデルを用意　|　低価格
ステップ高さ0.75nm、1.5 nmのサンプル　|　線状DNA分子サンプル

高感度・高空間分解能・拡張性を備えたハイエンド共焦点ラマン顕微鏡
高空間分解能XY〜200nm可能　|　全自動操作　|　ガルバノミラー走査
オプション：低波数ラマン測定　|　ブリルアン散乱測定　|　AFM拡張

高感度・コンパクト・高コストパフォーマンスの共焦点ラマン顕微鏡
高スペクトル分解能・高空間分解能　|　全自動操作
低価格・高コストパフォーマンス　|　モジュラー構成

コンパクト・高コストパフォーマンスのオールインワン共焦点ラマン顕微鏡
オールインワンのコンパクト設計　|　全自動操作
低価格・高コストパフォーマンス　|　カスタマイズ可能なモジュラー設計

2つの対物レンズを持つ水平対称構成でデザインされたイメージング分光器
焦点距離 約100 mm　|　非点収差・色収差を抑えたレンズ光学系を採用
高イメージング性能　|　高スループット F値　F/3.3

微弱光のイメージング測定に最適
最大量子効率 : > 90% | 波長範囲 : 300~1100 nm
画素数 : 1056×1027 or 2048×2048 | 素子サイズ : 13×13 μm or 13.5×13.5 μm

kHzレートでの測定が可能なSWIRカメラ
画素数 : 320×256 | 冷却 : TEC (安定化冷却) | 波長範囲 : 400~1700 nm
読出しノイズ : 225e@HG | フレームレート : kHzオーダー(ROI時) | オフセット/ゲイン補正有

低ノイズで測定可能な冷却SWIRカメラ
画素数 : 640×512 or 1280×1024| TEC冷却 : 最大-80 ℃ | 波長範囲 : 最大600~1700 nm
CameraLink接続 | グローバルシャッター | オフセット/ゲイン/ダーク補正有

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
1軸：Ｚ〜500 (μm) 　|　Ｘ〜1500 (μm) 　|　Θ〜5、10ｍrad
クローズドループ制御　　|　対物レンズ装着型　|　ウェルプレート対応型

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
XYストローク：10×10 (μm) 〜 600×600 (μm) 　|　クローズドループ制御　
薄型モデル　|　大開口付きモデル　|　２軸チルトモデル

高分解能・高安定性に優れたシリコンセンサーを搭載したピエゾステージ
XYZストローク：30×30×５(μm) 〜 300×300×300 (μm)
クローズドループ制御　|　薄型モデル　|　大開口付きモデル

高ブロッキング性能・高透過率で許容入射角が広いロングパスフィルター
高ブロッキング性能　OD > 6　|　高透過率　> 90%
優れたエッジ急峻度　|　高耐久性・長寿命

高いブロッキング性能と透過率を持つハードコート仕様のエッジフィルター
高ブロッキング性能　OD > 6　|　高透過率　> 90%
優れたエッジ急峻度　数十cm^-1 ～　|　高耐久性・長寿命

高いブロッキング性能と透過率を持つハードコート仕様のノッチフィルター
高ブロッキング性能　OD > 6　|　高透過率　> 90%
狭帯域バンド幅　10 nm ～　|　高耐久性・長寿命

高透過率と狭帯域バンド幅を持つハードコート仕様のレーザーラインフィルター
ブロッキング性能　OD > 3　|　高透過率　> 80%～
狭帯域バンド幅　2.2 nm (typical)　|　高耐久性・長寿命

ラマン分光計測に特化したハードコート仕様のダイクロイックフィルター
高透過率　> 90%　|　高耐久性・長寿命

多光子顕微鏡やレーザー加工に最適
波長 : 1230~1270 nm(CrF-450TP) | パルス幅 : <65 fs  | 出力 : ~700 mW
パルスコンプレッサーオプション有

テラヘルツ発生や多光子顕微鏡に最適
波長 : 1050 nm +/- 5 nm | パルス幅 : <70 fs  | 出力 : ~7W
高調波発生モデル有

多光子顕微鏡、SHG顕微鏡などに最適
波長可変域 : 680~4030 nm | 繰返し周波数 : 80±5 MHz | パルス幅 : <150 fs
平均出力 : 最大1200 mW ~ | 波長制御 : PC